其中LID和LeTID是业内的关注重点，LID的形成主要是由于太阳能电池收到光照后产生的硼氧复合体会降低少数载流子的寿命，导致功率下降。
而LeTID则是在高温条件下，辅助光照导致电池效率降低的现象。
01
测试方法
为了比较N型组件和P型组件的可靠性，测试序列如下：
-
冷热循环TC 200（IEC 61215, - 40°C 至 85°C，200次循环）/400（2倍加严）/600（3倍加严） -
湿热DH 1000（IEC 61215，温度85°C，相对湿度85%， 1000小时）/2000（2倍加严）/3000（3倍加严） -
机械性能序列（静载 SML+动载DML+冷热循环TC50+湿冻循环HF10） -
加严紫外老化UV90（IEC 61215, IEC TR 63279）
02
测试结果与分析
根据测试结果，N型组件在可靠性测试中表现优异，其衰减率均远远低于IEC的5%标准，并且衰减率在同一测试条件下均优于P型组件。尤其是在TC、PID和DH基础和加严测试序列中的表现优异。
这使得N型组件成为更可靠和持久的太阳能发电解决方案，选择N型成为目前电站选型的不二之选。
来源：PV-Tech
原文始发于微信公众号（艾邦光伏网）：N型组件全面“低衰减”！
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